摘要: 5G技术的发展推动了物联网技术的应用,LoRa凭借低功耗、远距离、自组网的优势,成为物联网无线通信技术的优选方案。市场对LoRa模组的需求大增,但由于LoRa射频模组在量产化过程中,射频性能的检测需依赖专业的射频检测仪器以及自动化测试程序,导致模组生产效率下降,生产成本增加。根据芯片RSSI参数的线性规律,设计出一种应用于Sx127x系列LoRa模组的射频检测方案,通过与标准的仪器检测结果对比,测量误差在允许范围内,该方案有效降低了检测成本,提升了检测效率。
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戚道才,沈伟,潘守彬,朱信臣,赵志浩. 一种应用于Sx127x系列LoRa模组的射频检测方案[J]. 电子与封装, 2020, 20(1):
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