摘要: 锡膏回流焊是半导体封装中组装工艺之一,较大焊接面积中焊接空洞是最常见和最难解决的问题之一。通过对锡膏印刷回流焊工艺特性的分析和相关性试验,排查出造成空洞的主要影响因素,运用实验设计(DOE)优化工艺参数、减少焊接空洞。为满足芯片焊接空洞要求,采用二次印刷回流新工艺,将芯片焊接空洞面积率降低到5%以内,解决因空洞引起的芯片裂损问题,为常规低成本锡膏回流焊接工艺的焊接空洞问题改善提供了参考。
中图分类号:
杨建伟. 常规锡膏回流焊接空洞的分析与解决[J]. 电子与封装, 2019, 19(11):
9 -13.
YANG Jianwei. Study of Solder Void on Traditional Solder Print and Reflow Process in Package[J]. Electronics & Packaging, 2019, 19(11):
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