中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

导航
热插拔损伤电路的失效分析及整改*
高嘉平, 王彬, 司耸涛, 虞勇坚
Failure Analysisand Rectification of Hot Swapping Damaged Circuit
GAO Jiaping, WANG Bin, SI Songtao, YU Yongjian
电子与封装 . 2021, (12): 120105 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.1201