0.8 μm高压BCD电路漏电失效改善

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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0.8 μm高压BCD电路漏电失效改善

向璐，陈洪雷，苏兰娟

Leakage Failure Improvement of 0.8 μm High Voltage BCD Circuits

XIANG Lu,CHEN Honglei,SU Lanjuan

电子与封装 . 2018, (3): 40 -43 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0033