中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于ATE的SRAM测试
奚留华
SRAM Testing Based on ATE
XI Liuhua
电子与封装 . 2017, (11): 10 -14 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0128