LDO芯片CP通用测试方法研究

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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LDO芯片CP通用测试方法研究

唐彩彬,张凯虹

Research on General CP Test Method of LDO Chip

TANG Caibin,ZHANG Kaihong

电子与封装 . 2017, (11): 15 -18 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0129