探索式软件测试融于传统测试模型的研究

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

导航

探索式软件测试融于传统测试模型的研究

徐彬，李华，张荣，侯庆庆

Research on Integration of Traditional Test Model and Exploratory Test

XU Bin,LIHua,ZHANG Rong,HOU Qingqing

电子与封装 . 2017, (6): 16 -18 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0068