中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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一种基于Scanchain的Block RAM的MBIST设计方法
丛红艳,闫华,胡凯,张艳飞
A Design of MBIST Based on Scan Chain Block RAM
CONG Hongyan, YAN Hua, HU Kai, ZHANG Yanfei
电子与封装 . 2016, (4): 21 -23 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0044