中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于探针连接器的弹性测试技术研究
吕英飞;陈忠睿;陈涛;笪余生;廖翱;肖晖
Researchon Elastic Testing Technology Based on Probe Connector
LYU Yingfei, CHEN Zhongrui, CHEN Tao, DA Yusheng, LIAO Ao, XIAO Hui
电子与封装 . 2020, (9): 90205 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0914