一种基于ATE的SerDes物理层测试方法<sup>*</sup>

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

导航

一种基于ATE的SerDes物理层测试方法^*

张凯虹;季伟伟;朱江

Test Method ofSerDes Physical layer based on ATE

ZHANG Kaihong, JI Weiwei, ZHU Jiang

电子与封装 . 2020, (11): 110205 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1111