FPGA潜在缺陷测试技术综述

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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FPGA潜在缺陷测试技术综述

黄姣英,李鹏,高成

LiteratureReview of FPGA Potential Defect Testing Technology

HUANG Jiaoying, LI Peng, GAO Cheng

电子与封装 . 2021, (1): 10201 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0102