中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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电子与封装 ›› 2018, Vol. 18 ›› Issue (12): 8 -11. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0129

• 封装、组装与测试 • 上一篇    下一篇

塑封微电路超声扫描检测的局限性

李青松1,罗向阳1,王瑞崧1,潘凌宇1,张 吉1,雷 鸣2,郑 丹2   

  1. 1.中国航天科工集团第四研究院可靠性分中心,湖北 孝感 432000;2.湖北三江航天万峰科技发展有限公司,湖北 孝感 432000
  • 收稿日期:2018-01-16 出版日期:2018-12-20 发布日期:2018-12-20
  • 作者简介:李青松(1972—),男,湖北枝江人,高级工程师,主要从事电子元器件可靠性的相关研究工作。

Limitations of Ultrasonic Scanning Detection in PEMs

LI Qingsong1,LUO Xiangyang1,WANG Ruisong1,PAN Lingyu1,ZHANG Ji1,LEI Ming2,ZHENG Dan2   

  1. 1.The Fourth Academy Reliability Centre of CASIC,Xiaogan 432000,China;2.Hubei Sanjiang Space Wanfeng Technology Co.,LTD,Xiaogan 432000,China
  • Received:2018-01-16 Online:2018-12-20 Published:2018-12-20

摘要: 超声扫描检测技术应用越来越广泛,在半导体器件、材料和生物医学等领域均利用了超声扫描技术。对超声扫描检测技术在塑封微电路中的应用进行了简要介绍,指出了超声扫描检测技术存在的一些局限性,并提出了一些检测改进建议。

关键词: 超声扫描, 塑封微电路, 局限性

Abstract: With the application of C-SAM becoming more and more widely,C-SAM is used in semiconductor,material and Biomedical.The paper gave the limitations of ultrasonic scanning detection in PEMs.And some suggestions were proposed as a reference.

Key words: C-SAM, PEMs, limitations

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