[1] 王剑宇, 苏颖. 高速电路设计实践[M]. 北京:电子工业出版社, 2016. [2] 江理东,孙明宇.航元器件应用验证系统工程[M]. 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社, 2020. [3] 国家质量监督检验检疫总局. 电子设备用固定电容器 第1部分:总规范: GB/T 2693-2001 中国标准书号[S]. 北京:中国标准出版社, 2004. [4] 中国人民解放军总装备部电子信息基础部. 中华人民共和国国家军用标准:GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法[S].北京:工业和信息化部电子第四研究,2009. [5] 宁永成. 硅集成电路老炼时间确定和寿命预计[J]. 航天器环境工程, 2010, 27(4): 508-509. [6] 王敏. 浅谈解决片式钽电容吸潮问题的方法[J]. 电子制作, 2022, 30(16): 76-78. [7] 朱英玮, 孙海钦, 李金, 等. 宇航用国产高精度运算放大器应用验证研究[J]. 电子元器件与信息技术, 2021, 5(3): 120-123. [8] 王玉.电子产品组装中陶瓷电容常见失效模式及改善建议[J].电子工艺技术,2018,39(3):182-184. [8] 王玉, 贾忠中, 刘哲. 电子产品组装中陶瓷电容常见失效模式及改善建议[J]. 电子工艺技术, 2018, 39(3): 182-186. [9] 俞珊, 徐志望, 董纪清. 开关电源中电解电容寿命预测分析[J]. 电源学报, 2016, 14(6): 87-92. [10] 宁玮, 张素娟, 高成, 等. 电子元器件国产化应用验证结构分析[J]. 电子元器件与信息技术, 2021, 5(12): 36-38. [11] 田东斌, 潘齐凤, 张选红, 等. 提高钽电容器储存稳定性的机理分析及试验研究[J]. 电子元件与材料, 2019, 38(4): 94-100. |