摘要: 针对CPU芯片的复杂性,芯片的自动化测试可节约测试时间,提高测试的准确度。设计了一种CPU芯片功能自动测试平台,该测试平台由待测CPU芯片、主控芯片和FPGA组成,主控芯片实现对待测电路的功能测试,FPGA负责协助处理,测试平台可实现CPU芯片的自动测试,测试结果通过串口输出表格化信息,便于观察测试结果与故障判断,弥补了测试机的不足。验证结果表明,该测试平台操作方便,可实现对复杂CPU的自动化测试,提高产品的测试效率。
中图分类号:
侯庆庆;刘凯;李文学. 一种CPU芯片功能自动测试平台的设计[J]. 电子与封装, 2021, 21(11):
110202 .
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