基于ATE的可编程SiP器件测试

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于ATE的可编程SiP器件测试

李鹏,白艳放,郑松海,赵娜,刘颖

Programmable SiP Device Test Based on ATE

LI Peng, BAI Yanfang, ZHENG Songhai, ZHAO Na, LIU Ying

电子与封装 . 2024, (10): 100207 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0146