电子与封装 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (10): 100207 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0146
李鹏,白艳放,郑松海,赵娜,刘颖
LI Peng, BAI Yanfang, ZHENG Songhai, ZHAO Na, LIU Ying
摘要: 分析了SiP器件内部数字芯片FPGA和模拟芯片ADC/DAC的主要电气参数及性能参数,明确了SiP器件的测试内容和方法。使用Altium Designer软件设计SiP6117M信号处理器专用测试板,结合测试需求、测试流程以及芯片具体参数提出设计目标,完成原理图设计、PCB设计、制板和调试工作。基于UltraFlex测试机台和设计完成的测试板搭建SiP6117M模块的测试平台,运用Verilog语言编写FPGA配置程序及测试程序,并通过JTAG接口对FPGA进行配置。开发UltraFlex测试程序对测试过程进行控制,实现了对SiP器件主要功能和性能参数的测试。
中图分类号: