基于故障监控的CPU测试平台设计

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于故障监控的CPU测试平台设计

刘宏琨,王志立,王一伟,张凯虹,奚留华

Test Platform Design of CPU Based on Fault Monitoring

LIU Hongkun, WANG Zhili, WANG Yiwei, ZHANG Kaihong, XI Liuhua

电子与封装 . 2025, (2): 20205 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0029