中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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多频点SerDes的测试方法研究
曹睿, 张霞, 李智超, 王兆辉, 侯帅康
Research on Testing Methods for Multi-Frequency Point SerDes
CAO Rui, ZHANG Xia, LI Zhichao, WANG Zhaohui, HOU Shuaikang
电子与封装 . 0, (): 0 -0 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2026.0016