一种基于Cortex-M内核的MCU测试方法

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一种基于Cortex-M内核的MCU测试方法

张秋丽1, 周世晶2, 黄沛文3, 李荣杰4

Testing Method for MCU Based on Cortex-M Cores

ZHANG Qiuli1, ZHOU Shijing2, HUANG Peiwen3, LI Rongjie4

电子与封装 . 0, (): 0 -0 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2026.0110