一种基于Cortex-M内核的MCU测试方法

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2026.0110

电子与封装

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一种基于Cortex-M内核的MCU测试方法

张秋丽¹，周世晶²，黄沛文³，李荣杰⁴

1. 无锡中微晶园电子有限公司，江苏无锡 214035；2. 中国电子科技集团公司第五十八研究所，江苏无锡 214035；3.深测芯检测认证有限公司，广东深圳 518110；4. 电子科技大学，成都 610050

收稿日期:2025-12-14 修回日期:2026-03-06 出版日期:2026-03-16 发布日期:2026-03-16
通讯作者: 周世晶

Testing Method for MCU Based on Cortex-M Cores

ZHANG Qiuli¹, ZHOU Shijing², HUANG Peiwen³, LI Rongjie⁴

1. Wuxi Zhongwei Microchips Co., Ltd., Wuxi 214035, China; 2. China Electronics Technology Group Corporation No. 58 Research Institute, Wuxi 214035, China; 3. Shence Chips Testing and Certification Co., Ltd., Shenzhen 518110, China; 4. University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu ,610050, China

Received:2025-12-14 Revised:2026-03-06 Online:2026-03-16 Published:2026-03-16

摘要/Abstract

摘要： 本文介绍了一种基于Cortex-M内核的MCU自动化测试方法，该方法依托V93000型自动测试系统(ATE)，通过SWD接口向待测的MCU烧写不同的程序，并开展相应的功能测试。此方法有效解决了MCU筛选测试过程中，程序需要在线重复配置加载的难题，实现了测试全程无需外部人工干预，所有程序的重复配置、加载与测试验证环节均由ATE自动控制完成。应用该方法可优化MCU芯片筛选环节的测试验证流程，显著提升了MCU测试验证的整体效率。

关键词: MCU, 测试, Cortex-M内核

Abstract: This paper presents an automated testing method for MCUs based on the Cortex-M core. This method utilizes the V93000 automatic test equipment (ATE) to burn different programs into the MCU under test via the SWD interface, followed by corresponding functional test. It solves the program of repeated online configuration and loading of programs during MCU screening and testing, that is, no external manual intervention is required throughout the MCU testing process, and the repeated program configuration, loading and test verification are all controlled by the ATE. The application of this method optimizes the test and verification flow in the MCU chip screening process and greatly improves the efficiency of MCU test and verification.

Key words: MCU, testing, Cortex-M core

张秋丽1, 周世晶2, 黄沛文3, 李荣杰4. 一种基于Cortex-M内核的MCU测试方法[J]. 电子与封装, doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2026.0110.

ZHANG Qiuli1, ZHOU Shijing2, HUANG Peiwen3, LI Rongjie4. Testing Method for MCU Based on Cortex-M Cores[J]. Electronics & Packaging, doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2026.0110.

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中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

中国半导体行业协会封测分会会刊

无锡市集成电路学会会刊

一种基于Cortex-M内核的MCU测试方法

Testing Method for MCU Based on Cortex-M Cores

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