×
模态框(Modal)标题
在这里添加一些文本
关闭
关闭
提交更改
取消
确定并提交
×
模态框(Modal)标题
×
中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊
中国半导体行业协会封测分会会刊
无锡市集成电路学会会刊
图表检索
高级检索
导航
首页
期刊简介
编委会
征稿启事
期刊浏览
最新录用
当期目录
过刊浏览
下载排行
阅读排行
引用排行
按栏目浏览
专题报道
学术道德规范
期刊订阅
订阅纸刊
订阅电子版
留言板
联系我们
GaN宽带大功率放大器应用可靠性研究
戈硕, 张茗川, 施尚, 邵国键, 成爱强
Research on the Application Reliability of GaN Broadband High-Power Amplifier
GE Shuo, ZHANG Mingchuan, SHI Shang, Shao Guojian, CHENG Aiqiang
电子与封装 . 0, (
): 0 -0 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2026.0121