中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

中国半导体行业协会封测分会会刊

无锡市集成电路学会会刊

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不同特征尺寸FPGA单粒子闩锁测试改良方法
郑天池, 宋林峰, 季振凯
Improved Method for Single Event Latch-up Testing of FPGAs with Different Feature Sizes
ZHENG Tianchi, SONG Linfeng, JI Zhenkai
电子与封装 . 0, (): 0 -0 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2026.0128