低开销、高可测试性抗辐射加固锁存器设计

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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低开销、高可测试性抗辐射加固锁存器设计

申赵璐, 徐辉, 马瑞君, 李想

Low-Overhead and Highly Testable Radiation-Hardened Latch Design

SHEN Zhaolu, XU Hui, MA Ruijun, LI Xiang

电子与封装 . 0, (): 0 -0 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2027.0007