中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于V93000 ATE的大电流测试方法研究
赵 桦,王建超
Research on Testing Large Current Based on the V93000 ATE
ZHAO Hua,WANG Jianchao
电子与封装 . 2017, (12): 14 -17 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0141