一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法

刘士全,徐超,秦晨飞,王健军

A New Evaluation Test for Long Storage Life of CMOS Component

LIU Shiquan,XU Chao,QIN Chenfei,WANG Jianjun

电子与封装 . 2016, (6): 36 -38 .