中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于ATE的数控电位计非线性误差测试优化
季伟伟;张凯虹;何 立
Test Optimizationof Nonlinear Error of Digitally Controlled Potentiometer Based on ATE
JI Weiwei, ZHANG Kaihong, HE Li
电子与封装 . 2020, (10): 100204 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1009