中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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电子与封装 ›› 2018, Vol. 18 ›› Issue (5): 38 -40. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0056

• 电路设计 • 上一篇    下一篇

一种对相频检测器反馈延时设计的研究

王兴宏1,谢长生2,张艳飞1   

  1. 1.中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡 214072;2.无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡 214072
  • 收稿日期:2017-12-26 出版日期:2018-05-20 发布日期:2018-05-20
  • 作者简介:王兴宏(1989—),男,甘肃庆阳人,本科,毕业于西北师范大学,研究方向为千万门级FPGA设计与验证。

A Studies of Feedback Delay for Phase Frequency Detector

WANG Xinghong1,XIE Changsheng2,ZHANG Yanfei1   

  1. 1.China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Wuxi 214072,China;2.East Technologies Inc.,Wuxi 214072,China
  • Received:2017-12-26 Online:2018-05-20 Published:2018-05-20

摘要: 在电荷泵锁相环中,边沿触发相频检测器对反馈延时有较高的设计要求,相频检测器有效输出脉冲宽度与时钟周期的不匹配会引入相位检测风险,严重影响电荷泵锁相环设计。为降低这一风险的影响,采用UMC 40 nm工艺搭建测试结构,验证说明如何在信号脉冲宽度和信号建立时间方面设计合理延时,得出仿真数据,最终验证反馈延时对相频检测器的重要性。

关键词: 相频检测器, 脉冲宽度, 反馈延时

Abstract: The paper introduces feedback delay of phase frequency detector,and illustrates mismatching between effective pulse width and clock period leads to phase detecting risk.The risk seriously influences the requirement of charge pump PFD design.The major factor is how to control pulse width and make a correct setup time to reduce this risk.The paper then explores the simulation data with the test bench of UMC 40nm foundry,finally pointsoutthe importance offeedback delay with PFD.

Key words: phase frequency detector, pulse width, feedback delay

中图分类号: