磁耦数字隔离器陶瓷封装技术研究

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0805

电子与封装 ›› 2020, Vol. 20 ›› Issue (8): 080202 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0805

磁耦数字隔离器陶瓷封装技术研究

敖国军^1，2，廖小平^1，2，杨兵^1，2

1.中科芯集成电路有限公司，江苏无锡 214072；2.无锡中微高科有限公司，江苏无锡 214035

接受日期:2020-03-17 出版日期:2020-08-25 发布日期:2020-04-10
作者简介:敖国军（1981—），男，江西抚州人，毕业于北京理工大学，硕士，高级工程师，现主要从事电子封装技术研究工作，参与多项课题研究。

Study on Ceramic Package for Magnetic Coupling Digital Isolator

AO Guojun^{1, 2}, LIAO Xiaoping^{1, 2}, YANG Bing^{1, 2}

1. China Key System & Integrated Circuit Co., Ltd., Wuxi 214072, China; 2. WuXi Zhongwei High-Tech Electronics Co., Ltd., Wuxi 214035, China

Accepted:2020-03-17 Online:2020-08-25 Published:2020-04-10

摘要/Abstract

摘要： 研究磁耦数字隔离器的陶瓷封装技术，分析了金丝球焊、硅铝丝楔焊经高温贮存后键合强度和键合失效模式的变化对可靠性的影响以及微变压器线圈压焊点的距离、腔体的压力、腔体里的气体种类对隔离电压的影响。研究结果表明，硅铝丝楔焊的可靠性更高；微变压器线圈压焊点的距离越大，腔体的压力越大，隔离电压越大；腔体内为电负性气体的隔离电压大于惰性气体。

关键词: 封装, 隔离器, 击穿电压, 隔离电压, 可靠性

Abstract: The ceramic package for magnetic coupling digital isolator is studied. The changes of bonding strength and failure mode of the gold wire ball bonding, aluminum-silicon wedge bonding for reliability were analyzed, and the pad distance of micro transformer , the press and the gas type in cavity for the isolation voltage were analyzed. The research results show that the aluminum-silicon wedge bonding has higher reliability, the pad distance is greater, the pressure is higher, and the isolation voltage is greater. The isolation voltage of the electronegative gas is higher than that of the inert gas in cavity.

Key words: package, isolator, breakdown voltage, isolation voltage, reliability

中图分类号:

TN305.94

敖国军，廖小平，杨兵. 磁耦数字隔离器陶瓷封装技术研究[J]. 电子与封装, 2020, 20(8): 080202 .

AO Guojun, LIAO Xiaoping, YANG Bing. Study on Ceramic Package for Magnetic Coupling Digital Isolator[J]. Electronics & Packaging, 2020, 20(8): 080202 .

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中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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Study on Ceramic Package for Magnetic Coupling Digital Isolator

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