• 封装、组装与测试 • 下一篇
赵桦，朱江，宋国栋，张凯虹，奚留华
ZHAO Hua, ZHU Jiang, SONG Guodong, ZHANG Kaihong, XI Liuhua
摘要： SiP微系统是一种高度集成化的系统，其内部集成了一个或多个数字信号处理（DSP）芯片、Nor Flash、DDR3存储器和AI加速芯片等，复杂的SiP微系统还集成了FPGA芯片。由于内部集成了多个微组件且芯片之间相互连接，传统的测试单一微组件的方法并不适用于SiP微系统。提出了针对DSP微组件测试方法，该系统包括一块专门的测试板、可调试的电脑测试环境和联合测试行动小组（JTAG）接口。与单一的DSP芯片测试相比，它可以快速、稳定地实现对DSP微组件的性能测试，满足大批量生产测试的需求。
