| [1] |
李可;朱逸;顾杰斐;赵新维;宿磊;MichaelPecht. 倒装芯片焊点缺陷无损检测技术[J]. 电子与封装, 2024, 24(9): 90204-. |
| [2] |
李圣贤,丁增千. 倒装芯片的底部填充工艺研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(7): 70208-. |
| [3] |
马书英, 付东之, 刘轶, 仲晓羽, 赵艳娇, 陈富军, 段光雄, 边智芸. 硅通孔三维互连与集成技术[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60109-. |
| [4] |
王亚飞, 杨鲁东, 吴雷, 李宏. 芯片焊盘加固提升Au-Al键合可靠性研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(11): 110203-. |
| [5] |
黄云龙. 倒装贴片设备的焊接机构温度误差补偿方法[J]. 电子与封装, 2023, 23(8): 80205-. |
| [6] |
方志丹, 于中尧, 武晓萌, 王启东. FCBGA基板关键技术综述及展望*[J]. 电子与封装, 2023, 23(3): 30103-. |
| [7] |
俞杰勋, 王谦, 郑瑶, 宋昌明, 方君鹏, 吴海华, 李铁夫, 蔡坚. 面向超导量子器件的封装集成技术*[J]. 电子与封装, 2023, 23(3): 30108-. |
| [8] |
马勉之,杨智群,张德涛. 引线键合中焊盘裂纹的产生原因及改善方法[J]. 电子与封装, 2023, 23(12): 120202-. |
| [9] |
赵竟成,周德洪,钟成,王晓卫,何炜乐. 不同I/O端数金凸点倒装焊的预倒装工艺研究[J]. 电子与封装, 2023, 23(11): 110203-. |
| [10] |
王欢,林瑞仕,朱旭锋,胡圣,李凌. 倒装焊结构的大规模集成电路焊点失效机理研究[J]. 电子与封装, 2023, 23(10): 100202-. |
| [11] |
汤姝莉, 赵国良, 薛亚慧, 袁海, 杨宇军. 基于TSV倒装焊与芯片叠层的高密度组装及封装技术[J]. 电子与封装, 2022, 22(8): 80201-. |
| [12] |
张平升, 朱晨俊, 文泽海, 汤泉根. 面向毫米波射频互联的超低弧金丝球焊工艺方法研究[J]. 电子与封装, 2022, 22(10): 100203-. |
| [13] |
岳帅旗;杨宇;刘港;周义;王春富;王贵华. LTCC高精密封装基板工艺技术研究[J]. 电子与封装, 2022, 22(1): 10203-. |
| [14] |
陈志健;王剑峰;朱思雄. 底部填充固化程序对固化后产品微气孔的影响[J]. 电子与封装, 2021, 21(9): 90202-. |
| [15] |
刘美;王志杰;孙志美;牛继勇;徐艳博. 键合过程中金属间化合物形成区域的分布研究[J]. 电子与封装, 2021, 21(8): 80205-. |