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易双秦,朱晨俊,张未希,常文涵,张家明
YI Shuangqin, ZHU Chenjun, ZHANG Weixi, CHANG Wenhan, ZHANG Jiaming
摘要: 金凸点是倒装芯片键合的关键互连结构,其形貌直接影响芯片互连可靠性。为实现金凸点的形貌调控,系统研究了工艺参数对金凸点的植球过程及形貌的影响规律。基于植球成型原理分析金凸点的成型过程,采用控制变量法开展工艺试验,结合线性拟合方法,探究打火参数及焊接参数(焊接压力、超声功率、超声时间)对金凸点体积与形状的影响规律。研究结果表明,金凸点体积与打火参数呈正相关;焊接参数与凸点形状尺寸呈线性关联,其中焊接压力、超声功率为主要影响因素,超声时间影响相对微弱。根据金凸点形貌变化趋势确定了关键工艺参数的合理取值范围。通过多元线性拟合建立了形状尺寸的计算公式。试验验证表明,拟合公式误差较小、在设定参数范围内适用性良好,可为倒装芯片金凸点成型工艺的参数优化与形貌调控提供理论参考。