摘要: 自对准双重图型(SADP)技术广泛应用于28 nm以下节点逻辑电路制造工艺和存储器制造工艺。与其他双重图形技术(LELE,LPLE)相比,在处理二维图形分解时,SADP面临更复杂的要求。针对一种简单的二维图形,介绍了3种图形分解方法,可以有效改善线宽和对准工艺窗口。
中图分类号:
宋长庚. SADP工艺中一类特殊二维图形的分解处理[J]. 电子与封装, 2017, 17(2):
40 -42.
SONG Changgeng. Pattern Decomposition Method for Special 2D Pattern in SADP Process[J]. Electronics & Packaging, 2017, 17(2):
40 -42.