中国半导体行业协会封装分会会刊

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电子与封装 ›› 2017, Vol. 17 ›› Issue (2): 37 -39. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0023

• 微电子制造与可靠性 • 上一篇    下一篇

编程MTM反熔丝的特征电压研究

徐海铭,顾祥   

  1. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏 无锡 214072
  • 收稿日期:2016-11-02 出版日期:2017-02-20 发布日期:2017-02-20
  • 作者简介:徐海铭(1983—),男,山东青岛人,毕业于江南大学微电子与固体电子学专业,现就职于中国电子科技集团公司第58研究所,主要从事MTM反熔丝单元结构设计、工艺开发及可靠性研究等工作。

Studies of Characteristic Voltage of Programmed Metal-to-Metal Antifuses

XU Haiming,GU Xiang   

  1. China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Wuxi 214072,China
  • Received:2016-11-02 Online:2017-02-20 Published:2017-02-20

摘要: 研究了不同MTM反熔丝材料的特征电压,发现特征电压不受电极材料影响而变化。电热模型理论在硅极反熔丝编程模型中得到进一步诠释和扩展,其中MTM反熔丝编程电阻与编程电流的关系也符合魏德曼-费尔兹定律。

关键词: 反熔丝, 编程, MTM

Abstract: The characteristic voltage Vfof different programmed metal-to metal antifuses is analyzed in the paper.It is independent of the change of electrode materials.The electro-thermal model once used to predict programmed silicon-electrode antifuse resistance,can be extended to the characteristic voltage.The relationship between the metal-to-metal antifuse resistance and programming current fits in with the Wiedeman-Franz law.

Key words: antifuse, programming, MTM

中图分类号: