电子与封装 ›› 2018, Vol. 18 ›› Issue (4): 13 -17. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0039
蔡胜凯,王卓,马亚东,汪尧,明鑫,张波
CAI Shengkai,WANG Zhuo,MA Yadong,WANG Yao,M ING Xin,ZHANG Bo
摘要: 介绍了一种适用于DDR内存驱动的LDO芯片。采用跨导线性环结构增大摆率,具有快速的瞬态响应。控制环路上下通道不匹配,采用单边米勒补偿方式,形成环路主极点和零点,再引入电阻R3形成补偿零点,环路整体表示为单极点系统,具有很好的稳定性。该LDO的典型输入电压为1.2 V,输出电压为0.6 V,负载电容为10 μF,具有1.5 A的电流抽取和灌出能力,同时集成了2.6 A的电流限功能,满足了DDR内存的应用需求。采用0.35 μm BCD工艺进行仿真验证,仿真结果表明该设计具有很好的瞬态调整能力和稳定性。
中图分类号: