电子与封装 ›› 2021, Vol. 21 ›› Issue (12): 120203 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.1212
田文超1;刘美君1;辛菲1;张国光2;陈逸晞2
TIAN Wenchao1, LIU Meijun1, XIN Fei1, ZHANG Guoguang2, CHEN Yixi2
摘要: 陶瓷柱栅阵列封装(Ceramic Column Grid Array,CCGA)器件已在航空航天等高可靠性产品中得到了广泛应用,其中铜带缠绕型焊柱因其强度更高、韧性更好的优良性能而备受关注。针对铜带缠绕型CCGA器件的植柱工艺,通过ANSYS数值模拟分析,仿真研究了焊柱尺寸、回流曲线、焊膏厚度等参数对CCGA器件残余应力及变形量的影响,并通过正交试验寻找最佳工艺参数。结果表明,植柱工艺中制备铜带缠绕型CCGA器件的最优工艺组合为焊柱内径0.40 mm、柱高3.81 mm、焊料厚度30.00 μm、降温速率2.00 ℃/s。
中图分类号: