电子与封装 ›› 2022, Vol. 22 ›› Issue (11): 110303 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1103
柯志鸣;党堃原;单宝琛;丛红艳
KE Zhiming, DANG Kunyuan, SHAN Baochen, CONG Hongyan
摘要: Flash型FPGA配置芯片相较于反熔丝配置芯片和可擦除可编程只读存储器(EPROM)型配置芯片,具备非易失性、功耗低、安全性高、可多次编程等更优异的特点。设计了一款具备存储器内建自测试(MBIST)功能的Flash型FPGA配置芯片,在March C?的基础上,提出了一种更全面的测试算法,该算法可以有效提高测试故障覆盖率,并且自身会对测试结果的正确性进行判断,从而快速有效地对Flash功能的正确性进行检验。由于Flash具有非易失性、集成度高等特点,且设计具备MBIST功能,该配置芯片可以满足复杂场景及广泛的应用需求。
中图分类号: