摘要: 以BGA基板焊接为研究对象,分析了无铅焊料(SAC305)与NiPdAu镀层经过多次回流焊后金属间化合物(IMC)厚度与焊点强度的变化趋势。试验结果表明,通过优化SAC305锡球与Ni层焊盘的回流焊接温度曲线,IMC层的厚度可控制在2
μm左右。同时,镀层中Pd的存在降低了(Cu,Ni, Pd)6Sn5生长的活化能,抑制了不良IMC的形成。经过多次回流焊后,SAC305锡球与NiPdAu镀层的微观界面和剪切强度仍然保持着较好的水平,经过回流焊3次后的焊点仍具有较高的可靠性。
中图分类号:
常青松, 徐达, 袁彪, 魏少伟. 多次回流焊后金属间化合物及焊点强度分析[J]. 电子与封装, 2023, 23(8):
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