摘要: 近年来,国防等应用领域对电子元器件提出了国产化要求,自主设计的高性能复杂可编程逻辑器件(CPLD)应运而生。这些CPLD需要按照一定的标准流程进行筛选、考核,其中擦写寿命是一项重要的考核指标。阐述了采用集成开发环境及自动化测试机台对CPLD擦写寿命进行验证的不足之处,提出了一种CPLD擦写寿命验证装置的设计,经过实际检验,设计的装置稳定可靠,满足大批量器件的验证需求,提高了CPLD擦写寿命验证的效率。
中图分类号:
顾小明,肖培磊,唐勇. 一种用于CPLD擦写寿命验证的设计[J]. 电子与封装, 2023, 23(9):
090203 .
GU Xiaoming,XIAO Peilei,TANG Yong. Design for CPLD Program/Erase Cycles Verification[J]. Electronics & Packaging, 2023, 23(9):
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