VCD和WGL文件转换为ATE测试向量的方法

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0073

电子与封装 ›› 2025, Vol. 25 ›› Issue (6): 060208 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0073

VCD和WGL文件转换为ATE测试向量的方法

欧阳涛¹，谭勋琼¹，李振涛^1,2

1. 长沙理工大学物理与电子科学学院，长沙? 410114；2. 湖南毂梁微电子有限公司，长沙? 410000

收稿日期:2024-12-13 出版日期:2025-06-27 发布日期:2025-02-12
作者简介:欧阳涛（1999—），男，湖南衡东人，硕士研究生，主要研究方向为可测性设计和自动测试机台测试。

Method for Converting VCD and WGL Files into ATE Test Vectors

OUYANG Tao¹, TAN Xunqiong¹, LI Zhentao^1,2

1.School of Physics & ElectronicScience, Changsha University ofScience & Technology, Changsha 410114, China; 2. Hunan Great-LeoMicroelectronics Co., Ltd., Changsha 410000, China

Received:2024-12-13 Online:2025-06-27 Published:2025-02-12

摘要/Abstract

摘要： 介绍了VCD（Value Change Dump）和WGL（Waveform Generation Language）波形描述文件在集成电路领域的重要应用，并对VCD和WGL文件中的组成元素进行了全面的分析。结合波形文件特点，采用逐行解析匹配关键字的策略对文件进行解析，引入配置文件控制数据处理过程，将波形文件转换为自动测试机台（ATE）所需的测试向量，在Linux环境下采用C/C++语言实现。实际应用表明，该方法转换过程简便高效，在保证测试向量功能正常的条件下，VCD文件和WGL文件的转换时间都有明显缩减，达到了提高转换效率的目的。

关键词: 仿真波形文件, 自动测试机台, 测试向量, 集成电路测试

Abstract: The important applications of VCD (value change dump) and WGL (waveform generation language) waveform description files in the field of integrated circuits are introduced, and a comprehensive analysis of the elements in VCD and WGL files is conducted. Based on the characteristics of waveform files, a strategy of line-by-line parsing and keyword matching is adopted to parse the files. A configuration file is introduced to control the data processing process, converting waveform files into test vectors required by automatic test equipment (ATE). The implementation is carried out in a Linux environment using the C/C++ programming language. Practical applications show that this method is simple and efficient, the conversion time of VCD and WGL files is significantly reduced respectively while ensuring the normal functioning of the test vectors, achieving the goal of improving conversion efficiency.

Key words: simulation waveform file, automatic test equipment, test vector, integrated circuit testing

中图分类号:

TN407

欧阳涛，谭勋琼，李振涛. VCD和WGL文件转换为ATE测试向量的方法[J]. 电子与封装, 2025, 25(6): 060208 .

OUYANG Tao, TAN Xunqiong, LI Zhentao. Method for Converting VCD and WGL Files into ATE Test Vectors[J]. Electronics & Packaging, 2025, 25(6): 060208 .

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中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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