摘要: 封装是T/R开关的关键环节。开关封装失效主要包括外壳失效和LTCC基板失效。为了避免T/R开关失效,利用ANSYS 14.0对封装进行模态仿真及加速度瞬态仿真,找出开关封装的加速度响应值以及受到应力时的频率特性,并通过随机试验和半正弦冲击试验验证仿真结果,验证封装可靠性。试验结果表明,目前的T/R开关封装可以保证组件能够承受40 g以上的加速度冲击和振动。
中图分类号:
马其琪, 李俊, 冯晓曦, 马龑杰. T/R开关封装加速度仿真及测试[J]. 电子与封装, 2018, 18(4):
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