中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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电子与封装 ›› 2016, Vol. 16 ›› Issue (12): 23 -25. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0139

• 封装、组装与测试 • 上一篇    下一篇

一种利用迭代法实现的熔丝修调方案

吴熙文,顾卫民   

  1. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏 无锡 214035
  • 出版日期:2016-12-20 发布日期:2016-12-20
  • 作者简介:吴熙文(1989—),男,江苏无锡人,助理工程师, 2013年毕业于南京航空航天大学航空结构测试技术专业,现在中国电子科技集团公司第58研究所从事集成电路测试技术研究工作,主要研究方向为模拟电路的测试技术。

An Iteration-based Fuse Trimming Test Method

WU Xiwen, GU Weimin   

  1. China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute, Wuxi 214035, China
  • Online:2016-12-20 Published:2016-12-20

摘要: 随着集成电路的迅速发展,测试过程中熔丝修调的精度受到越来越多的重视。在某些产品熔丝步距一致性欠佳的情况下,传统的查表法熔丝修调方案已经无法满足当下的精度要求,从而表现为测试过程中区域性或批次性的低良率,造成人力、物力的损失。将迭代法应用到熔丝表的计算中去成为了提升测试精度的必然趋势。采用迭代法的熔丝方案可以根据圆片当前区域的熔丝步距实时调整熔丝表,提升测试良率和测试精度。

关键词: 熔丝修调, 迭代法, 熔丝步距

Abstract: With the rapid development of integrated circuits, the accuracy of fuse trimming is being paid increas-ingly more attention. Traditional look-up table trimming plan could no longer meet the accuracy re-quirements when the fuse step of some products are not consistent. The low yield in the test process leads to substantial loss of labor, materials and funds. Application of the iterative method in the calcu-lation of fuse trimming table has become an inevitable trend for better testing accuracy. The method could adjust the fuse trimming table in real time according to the current area of the wafer.

Key words: fuse trimming, iterative method, trimming step

中图分类号: