摘要: 对35 micro-x封装的微波晶体管防自激老化电路的各部分功能进行了详细介绍,讨论了如何判定管子是否处于稳定工作状态的方法。通过在测试间里搭建老化电路,模拟实际老炼状态,使用红外热像仪测试壳温的方法,比较了不同散热条件下的壳温测试数据,得出了管子的壳温以及管帽和管底之间的温度差。试验证明:在管底使用铝块和导热硅胶相结合散热的方法,能解决35 micro-x封装形式的低结温晶体管老化过程中的结温控制问题。
中图分类号:
王小萍,李雪,张利敏,秦皓. 微波晶体管满功率老炼技术研究[J]. 电子与封装, 2016, 16(10):
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WANG Xiaoping,LI Xue,ZHANG Limin,QIN Hao. Research of Full-power Aging Technology for Microwave Transistor[J]. Electronics & Packaging, 2016, 16(10):
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