摘要: 硬件芯片的功能、可靠性和稳定性至关重要,使得硬件测试越来越受到重视。在测试过程中为提高测试的精度和稳定性,会在测试芯片外围电路的基础上根据不同芯片的测试难点增加测试辅助电路,运放电路是其中较为常见的测试辅助电路。根据各运放电路的特点与功能,分别描述和研究了在遇到测试难点时运算放大器、电压跟随器和电压比较器在测试系统中的应用,从而有效提高了测试精度。
中图分类号:
王金萍,吴熙文. 运放电路在测试系统中的应用[J]. 电子与封装, 2017, 17(12):
18 -22.
WANG Jinping,WU Xiwen. Application of Operational Amplifier Circuit in Test System[J]. Electronics & Packaging, 2017, 17(12):
18 -22.