摘要: 近年来,半加成法成为了一种新的印制电路板的线路制作工艺,但其存在树脂与铜箔间的剥离强度不高的问题。通过拉力测试以及扫描电子显微镜、红外光谱、X射线光电子能谱的表征,探究了BT树脂基板在薄化铜后进行烘烤对树脂剥离强度的影响。研究结果表明,板材的失效模式是树脂的内聚破坏,经过烘烤后,树脂与增强颗粒间的结合力下降,树脂本身会受到铜离子催化氧化的影响,结构发生改变,导致强度降低。对失效机理的研究为半加成法提供了改进思路。
中图分类号:
林君逸,俞宏坤,欧宪勋,程晓玲,林佳德. 半加成工艺中薄化铜后烘烤对剥离强度的影响[J]. 电子与封装, 2023, 23(9):
090202 .
LIN Junyi,YU Hongkun,OU Xianxun,CHENG Xiaoling, LIN Jiade. Effect of Baking After Electroless Cu Plating on Peel Strength in Semi-Additive Process[J]. Electronics & Packaging, 2023, 23(9):
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