摘要: 塑封集成电路(IC)受潮气侵蚀造成离子污染而引起的可靠性问题较为常见,由印刷电路板焊锡污染而引起的则不多。介绍印刷电路板焊锡污染导致IC可靠性失效的实际案例,指出焊锡污染发生的条件,通过对IC塑封体元素成分的分析,得出焊锡污染可能导致IC可靠性失效的原因。通过对失效品加热及再次老化,让IC性能恢复和再次失效。从原理上解释了焊锡污染IC封装塑封体是不可恢复的,在特定条件下还可能会再次失效。对SMT工程师给出建议,以避免类似焊锡污染IC导致可靠性失效。
中图分类号:
邱志述, 胡敏. 塑封集成电路焊锡污染影响与分析[J]. 电子与封装, 2025, 25(5):
050201 .
QIU ZhiShu, HU Min. Impact and Analysis of Solder Contamination on Molded IC[J]. Electronics & Packaging, 2025, 25(5):
050201 .