摘要: 基准电压芯片的输出电压精度是最关键的参数,在生产制造时测试环节非常重要,这就对芯片测试提出了更高的要求,测试系统的精度必须高于产品的要求精度。测试系统的精度不能满足要求时就需要对待测信号进行放大处理,在测试结果中按照放大的实际倍数换算回来。ADR44X的输出精度要求为1 mV,测试系统的精度为2.5 mV,将信号放大100倍后测试就可以满足要求,也基本可以满足大部分基准电压IC的精度要求。经过和高精度仪器的对比验证,该方案可以满足ADR44X的精度要求。
中图分类号:
程法勇,刘继光. 高精度基准电压测试技术研究[J]. 电子与封装, 2018, 18(11):
15 -17.
CHENG Fayong,LIU Jiguang. Research on Test Technology of High-accuracy Reference Voltage[J]. Electronics & Packaging, 2018, 18(11):
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