中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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电子与封装 ›› 2017, Vol. 17 ›› Issue (12): 18 -22. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0142

• 封装、组装与测试 • 上一篇    下一篇

运放电路在测试系统中的应用

王金萍,吴熙文   

  1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214072
  • 收稿日期:2017-07-02 出版日期:2017-12-20 发布日期:2017-12-20
  • 作者简介:王金萍(1989—),女,河北沧州人,工程师,2016年毕业于江南大学控制工程专业,现在中国电子科技集团公司第五十八研究所从事集成电路测试方面的工作,主要研究方向为模拟电路的测试技术。

Application of Operational Amplifier Circuit in Test System

WANG Jinping,WU Xiwen   

  1. China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Wuxi 214072,China
  • Received:2017-07-02 Online:2017-12-20 Published:2017-12-20

摘要: 硬件芯片的功能、可靠性和稳定性至关重要,使得硬件测试越来越受到重视。在测试过程中为提高测试的精度和稳定性,会在测试芯片外围电路的基础上根据不同芯片的测试难点增加测试辅助电路,运放电路是其中较为常见的测试辅助电路。根据各运放电路的特点与功能,分别描述和研究了在遇到测试难点时运算放大器、电压跟随器和电压比较器在测试系统中的应用,从而有效提高了测试精度。

关键词: 硬件测试, 运算放大器, 电压跟随器, 电压比较器

Abstract: With the developing of technology,the functionality,reliability and stability of hardware chips are critical,so that the hardware testingis getting more and more attention.In the test process,testing engineers will make use of the auxiliary circuit based on the external circuit according to the testing difficulty to improve the accuracyandstability.OpAmpcircuitisthe commonlytestingauxiliarycircuit.Accordingto the characteristics and functions of different Op Amp circuits,this paper describes the application of operational amplifiers,voltage followers and voltage comparators in test system when the test difficulties are encountered,so that can improve the testaccuracyeffectively.

Key words: hardware testing, operational amplifier, voltage follower, voltage comparators

中图分类号: