摘要: 在FPGA的设计、生产过程中,测试是保证器件质量的关键步骤。针对FPGA典型的潜在缺陷,阐述了主流的FPGA测试方法,对各方法的优缺点做了简要对比和总结。同时提出了对构成FPGA的可编程逻辑资源、互联线资源、端口资源、内嵌核四大模块分别进行测试的分类测试法,分析每个模块的典型缺陷,归纳对应的测试方法。
中图分类号:
黄姣英,李鹏,高成. FPGA潜在缺陷测试技术综述[J]. 电子与封装, 2021, 21(1):
010201 .
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