摘要: 针对多层电路过渡结构的微波性能参数提取问题,提出了一种逐步增加过渡结构的设计方法。该方法建立了多个通道间插入损耗的数学关系,通过对插入损耗的测试值进行运算处理,得到各过渡结构的微波特性参数。最后用该方法提取了一种多层电路过渡结构的微波性能参数,包括垂直过渡损耗、水平过渡损耗、直角过渡损耗、单位长度传输线损耗。提取结果可为使用该叠层结构的微波电路设计提供参考。
中图分类号:
王欢, 笪余生, 舒攀林, 张柳. 一种提取多层印制电路微波过渡特性的方法[J]. 电子与封装, 2020, 20(9):
090304 .
WANG Huan, DA Yusheng, SHU Panlin, ZHANG Liu. A Method to Extract MicrowaveTransition Characters of a Multilayer Printed Circuit[J]. Electronics & Packaging, 2020, 20(9):
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