电子与封装 ›› 2019, Vol. 19 ›› Issue (6): 041 -46. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.0610
左慧玲1,高吴昊1,刘承芳1,夏 云1,孙 鹏2,3,陈万军1
ZUO Huiling1,GAO Wuhao1,LIU Chengfang1,XIA Yun1,SUN Peng2,3,CHEN Wanjun1
摘要: 通过仿真模拟脉冲激光对半导体器件光生载流子的影响,重点研究纵向NPN 三极管(VNPN)的激光辐照效应。光照强度较小时,只有集电结反偏,而发射结处的光生电动势不足以抵消发射结的内建电势,发射结尚未开启,器件工作在以集电结为主的二极管模式;光照强度增加时,发射结逐渐开启,器件工作在三极管模式;光照强度进一步增大,由于外部限流电阻的作用,集电极电流达到饱和,器件工作在以发射结为主的二极管模式。因此,随着光照强度的增加,VNPN 器件的激光辐射效应经历三个阶段,其响应曲线呈非线性变化。改变VNPN 的尺寸和脉冲激光的参数,会影响器件进入三极管模式的临界点,改变非线性响应的触发光照强度,体现了器件对激光辐照效应的敏感性。
中图分类号: